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  Forscher sorgen für schärfere Bilder in der Elektronenmikroskopie

  
  

  Datum hinzugefügt: 2009-08-11

  
  

  Forscher des IBM T.J. Watson Research Centers (NYSE: IBM) sowie der niederländischen Universitäten Leiden und Twente haben die Auflösung von so genannten Niederenergie-Elektronenmikroskopen (LEEM) dank dem Einsatz eines neuartigen Detektors, dem Medipix2, um das 2,5-fache verbessert. Damit lassen sich Materialien auf der Mikro- und Nanometerskala effizienter und exakter untersuchen. Das Wachstum sehr dünner Schichten, wie etwa Grafen, kann zum Beispiel mitlaufend beobachtet und so gezielt erforscht und kontrolliert werden.

   

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